光學(xué)薄膜測量?jì)x的工作原理

光學(xué)薄膜由薄的分層介質(zhì)構成的，通過(guò)界面傳播光束的一類(lèi)光學(xué)介質(zhì)材料。光學(xué)薄膜的應用始于20世紀30年代?，F代，光學(xué)薄膜已廣泛用于光學(xué)和光電子技術(shù)領(lǐng)域，制造各種光學(xué)儀器。主要的光學(xué)薄膜器件包括反射膜、減反射膜、偏振膜、干涉濾光片和分光鏡等等。它們在國民經(jīng)濟和國防建設中得到了廣泛的應用。

 

GL-SPM-D2T光學(xué)薄膜測量?jì)x是?能快速準確地測量手機屏幕目的透光率以及各類(lèi)平面光學(xué)元件的透射率，可用于實(shí)時(shí)在線(xiàn)檢測，實(shí)現產(chǎn)品全檢的儀器。

 

原理：

 

當觸針沿被測表面輕輕滑過(guò)時(shí)，由于表面有微小的峰谷使觸針在滑行的同時(shí)，還沿峰谷作上下運動(dòng)。觸針的運動(dòng)情況就反映了表面輪廓的情況。傳感器輸出的電信號經(jīng)測量電橋后，輸出與觸針偏離平衡位置的位移成正比的調幅信號。經(jīng)放大與相敏整流后，可將位移信號從調幅信號中解調出來(lái)，得到放大了的與觸針位移成正比的緩慢變化信號。再經(jīng)噪音濾波器、波度濾波器進(jìn)一步濾去調制頻率與外界干擾信號以及波度等因素對粗糙度測量的影響。