光學(xué)薄膜測量?jì)x主要用于電容器用聚脂薄膜、聚丙稀薄膜的電弱點(diǎn)測試，測試數據能真實(shí)地反映薄膜的質(zhì)量水平。該系列產(chǎn)品的主要元器件均選用進(jìn)口品牌，有效地保證了設備的可靠性、耐用性和穩定性。測量準確，復現性好。測試過(guò)程采用電子技術(shù)全自動(dòng)控制，遇到電弱點(diǎn)時(shí)電壓切斷動(dòng)作迅速。擊穿電流連續可調，復現性好。本機具備多重保護功能，充分考慮了操作人員及設備的安全性。如過(guò)壓、過(guò)流、接地保護，試驗平臺門(mén)開(kāi)啟保護。
光學(xué)薄膜測量?jì)x的產(chǎn)品特點(diǎn)：
微電腦控制系統，大液晶顯示、PVC操作面板，方便用戶(hù)進(jìn)行試驗操作和數據查看。
嚴格按照標準設計的接觸面積和測量壓力，同時(shí)支持各種非標定制。
測試過(guò)程中測量頭自動(dòng)升降，有效避免了人為因素造成的系統誤差。
支持自動(dòng)和手動(dòng)兩種測量模式，方便用戶(hù)自由選擇。
系統自動(dòng)進(jìn)樣，進(jìn)樣步距、測量點(diǎn)數和進(jìn)樣速度等相關(guān)參數均可由用戶(hù)自行設定。
實(shí)時(shí)顯示測量結果的Z大值、Z小值、平均值以及標準偏差等分析數據，方便用戶(hù)進(jìn)行判斷。
配置標準量塊用于系統標定，保證測試的精度和數據一致性。
系統支持數據實(shí)時(shí)顯示、自動(dòng)統計、打印等許多實(shí)用功能，方便快捷地獲取測試結果。
標準的USB接口，便于系統與電腦的外部連接和數據。
光學(xué)薄膜測量?jì)x的操作注意事項：
1、試驗結束后，必須切斷電源。
2、保持機器清潔，非試驗用機時(shí)間，需用防塵布覆蓋整個(gè)儀器。
3、試驗過(guò)程中要注意水平放置，測試時(shí)盡量減少人工干預。
4、注意定期的維護與保養。
5、如果儀器發(fā)生故障，操作人員在熟悉該設備使用手冊及電器原理的基礎上，須在售后服務(wù)人員的配合下方可進(jìn)行常規的維修保養與故障排除，嚴禁客戶(hù)擅自拆卸。
6、設備精度校驗間隔時(shí)間按照有關(guān)規范執行。
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